L'objectif de ce cours est de se familiariser avec les techniques de caractérisation qui sont fréquemment utilisées dans la science des matériaux, y compris les voies de synthèse, la diffraction des rayons X (identification des phases, détermination des paramètres de la cellule, affinement de la structure, ....), la microscopie à force atomique, la microscopie électronique à transmission, les mesures électriques. Une introduction et des exercices pratiques donneront aux étudiants une connaissance de base de chaque technique et les aideront à en évaluer les avantages et les limites.
Après chaque session, les étudiants fourniront un rapport (1 rapport par groupe) présentant l'approche, leurs hypothèses et leurs résultats, en mettant l'accent sur les limites de chaque technique. La note finale sera la moyenne des notes obtenues pour chaque rapport.
Les sessions seront de 4 ou 8 heures, en fonction de la difficulté.
- Responsable: Dezanneau Guilhem